X熒光光譜儀是專門為工業(yè)用戶設(shè)計的、全集成化的X射線熒光光譜儀系統(tǒng)，小型化、高可靠性，它不需要任何外部輔助系統(tǒng)、如變壓器、液氮或冷卻水；主機采用220V交流電源，即可以安裝在實驗室內(nèi)使用，也可以安裝在質(zhì)量控制現(xiàn)場使用。儀器可以在任何環(huán)境中，每周七天，每天24小時連續(xù)運行。

　　X熒光光譜儀的性能特點：

　　1、分析速度快。測定用時與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，10～300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　2、X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

　　3、非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

　　4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。

　　5、分析精密度高。目前含量測定已經(jīng)達到ppm級別。

　　6、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

　　X熒光光譜儀應用領(lǐng)域非常廣泛，可以分析鋼鐵、有色金屬、土壤、水泥、油品、礦石、耐火材料、玻璃以及用戶特殊材料。根據(jù)不同的樣品，儀器可以檢測從ppm到%不同含量范圍內(nèi)的元素及化合物。