納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性，實現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)測量。

　　該儀器核心光學(xué)系統(tǒng)包含激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，支持10-2000nm粒徑檢測范圍，并具備熒光檢測功能。其工作原理是通過激光束照射納米顆粒懸浮液，利用顯微鏡捕捉顆粒散射光形成的移動光點，相機以每秒約30幀的速度記錄顆粒布朗運動軌跡，專用軟件通過斯托克斯-愛因斯坦方程推算粒徑分布，精度可達4nm，同時提供顆粒濃度（10?-10?個/mL精度）和Zeta電位（±200mV范圍）測量。

　　納米顆粒跟蹤分析儀和顆粒跟蹤分析儀均基于顆粒布朗運動原理實現(xiàn)粒度分析，但二者在測量范圍、技術(shù)細節(jié)等方面存在顯著差異，核心區(qū)別在于對“納米級”顆粒的特異性檢測能力。以下從多個維度詳細對比：

　　一、測量粒徑范圍的核心差異

　　顆粒跟蹤分析儀（PTA）：

　　主要針對微米級及以上顆粒（通常測量范圍為0.5μm-100μm），適用于較大顆粒的跟蹤和分析。其光學(xué)系統(tǒng)（如普通光學(xué)顯微鏡）的分辨率有限，難以捕捉納米級顆粒的布朗運動軌跡。

　　納米顆粒跟蹤分析儀（NTA）：

　　專門針對納米級顆粒（典型測量范圍為10nm-1μm），通過優(yōu)化光學(xué)設(shè)計（如采用激光光源、高靈敏度相機）和算法，可識別并跟蹤納米顆粒的快速布朗運動（納米顆粒因尺寸小，布朗運動更劇烈）。

　　二、技術(shù)原理的細節(jié)差異

　　兩者均基于斯托克斯-愛因斯坦方程（通過顆粒擴散系數(shù)計算粒徑），但實現(xiàn)方式不同：

　　光學(xué)系統(tǒng)：

　　PTA：多采用普通白光光源和常規(guī)顯微鏡，相機幀率較低（通常＜30fps），適用于運動速度較慢的大顆粒。

　　NTA：采用激光光源（如488nm藍色激光）聚焦于樣品池，使納米顆粒產(chǎn)生散射光；搭配高幀率CCD/CMOS相機（通常＞30fps，甚至達100fps以上），可捕捉納米顆粒的快速位移。

　　跟蹤算法：

　　PTA：算法相對簡單，主要通過顆粒的位移距離和時間計算擴散系數(shù)，對顆粒濃度要求較低（避免顆粒重疊）。

　　NTA：需處理納米顆粒的高動態(tài)運動，算法更復(fù)雜（如采用粒子追蹤velocimetry技術(shù)），同時可通過散射光強度估算顆粒濃度（需校準(zhǔn)），但對樣品濃度敏感（過濃會導(dǎo)致顆粒軌跡重疊，影響分析）。

　　三、核心區(qū)別總結(jié)

　　粒徑敏感性：NTA專為納米級（10nm-1μm）設(shè)計，PTA聚焦微米級（0.5μm以上）。

　　光學(xué)與算法：NTA依賴激光+高幀率相機+復(fù)雜跟蹤算法，PTA采用常規(guī)光學(xué)系統(tǒng)和簡單算法。

　　功能擴展：NTA通常可同時提供粒徑分布和顆粒濃度數(shù)據(jù)，PTA更側(cè)重粒徑分析，濃度測量精度較低。