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以金礦三、四期礦樣的物質成分研究進行說明X衍射的工作方法和分析步驟,具體如下：1、礦樣特征由于三、四期礦樣均為褐色砂狀礦樣,以氧化物為主,用水析分離后表明三期礦石風化程度較大。2、光譜分析對礦樣的平均樣品進行光譜分析,確定礦樣中大致上所含元素種類。光譜分析結果表明硅、鋁、鎂、鐵含量較高,同時還有其他元素少量或微量。3、化學分析對含量較高的元素進行化學分析,得出元素在礦樣中的具體含量。化學分析結果表明礦樣的主要元素為二氧化硅,次要元素為鐵、氧化鋁和氧化鎂。三期礦石含硫較低,其他...

1、X熒光光譜儀核查周期X熒光光譜光譜儀經機構檢測合格后每3個月進行一次期間核查。2、X熒光光譜儀期間核查的類型采用定值物質進行核查。3、X熒光光譜儀核查內容①PE基質工作曲線用已有的PE基質工作曲線測定PE基質的定值物質6次，其定值為：Cr：600ppm、Cd：310ppm、Hg：600ppm、Pb：620ppm、Br：590ppm，計算出其平均值和相對標準偏差。要求各個元素的平均值落在定值的95-105%之間，相對標準偏差必須小于10%。②PVC基質工作曲線用已有的PVC...

一、進口X射線衍射儀制樣中應注意的問題1、樣品粉末的粗細：樣品的粗細對衍射峰的強度有很大的影響。要使樣品晶粒的平均粒徑在5μm左右，以保證有足夠的晶粒參與衍射。并避免晶粒粗大、晶體的結晶完整，亞結構大，或鑲嵌塊相互平行，使其反射能力降低，造成衰減作用，從而影響衍射強度。2、樣品的擇優取向：具有片狀或柱狀*解理的樣品物質，其粉末一般都呈細片狀或細律狀，在制作樣品過程中易于形成擇優取向，形成定向排列，從而引起各衍射峰之間的相對強度發生明顯變化，有的甚至是成倍地變化。對于此類物質，...

由于產生誤差的原因不同,能量色散型X熒光光譜儀各種誤差具有不同的性質,顯示出不同的基本特征。通常將誤差分為系統誤差、隨機誤差與過失誤差三類。(1)系統誤差由于在能量色散型X熒光光譜儀測定過程中某些固定的原因,造成測定結果經常性偏高或偏低,出現比較恒定的正誤差或負誤差,這種誤差稱為系統誤差,或者稱為固定誤差、可測誤差,它是測定結果中的主要誤差來源。系統誤差的特點是,這種誤差在測定過程中按一定規律重復出現,并具有一定的方向性,表現為測定結果經常性偏高或偏低,增加測定次數并不能減少...

一、檢測元素范圍一般來說,波譜儀可探測的zui輕元素為鈹,能譜儀可檢測到硼元素,而實際上,波譜儀一般也只測到硼。對于原子序數小于10的超輕元素,過去多采用硬脂酸鉛晶體分光,對氮、氫等元素的探測效率較低,現在使用人工沉積的多層膜晶體,使探測效率提高很多。圖1顯示了用硬脂酸鉛晶體(STE)與W2C多層膜晶體(LDEB)對硼元素的測試結果。二者的實驗條件相同,圖的縱坐標為X2射線強度。可以看到,用多層膜測得的強度比硬脂酸鉛提高了五倍多,峰背比改善更大,對其它超輕元素的測量都有類似的...