X射線熒光光譜儀是一種基于X射線激發原理的非破壞性分析儀器,通過測量物質受激發后產生的特征X射線熒光,實現元素成分的定性與定量分析。其核心原理是利用高能X射線或伽馬射線轟擊樣品,使樣品中的原子內層電子被擊出,形成電子空穴。外層電子躍遷填補空穴時,釋放出具有特定能量(或波長)的特征X射線,探測器捕獲這些熒光信號后,通過軟件系統轉換為元素種類及含量信息。
  1、清潔樣品室(樣品腔)
  每次測試后:使用潔凈、干燥、無絨的軟布或專用吹氣球清除樣品室內的粉塵、樣品碎屑或殘留物。
  避免使用液體清潔劑:嚴禁將水或有機溶劑直接噴灑或擦拭樣品室,以免損壞探測器窗口、光路系統或電路板。
  特殊污染處理:若樣品為液體或易揮發物質,應立即清理,防止腐蝕或污染內部組件。
  2、清潔樣品托盤和樣品杯/膜
  取出樣品后,及時清理托盤上的殘留物。
  對于壓片樣品,清除粉末;對于液體樣品,用無水乙醇擦拭干凈并晾干。
  定期檢查樣品杯底部的**聚酯薄膜(Mylar膜)**是否破損、起皺或污染,及時更換。
  3、檢查X射線管窗口
  觀察X射線出口窗口(通常為Be窗)是否清潔、無劃痕或污染。若有灰塵,用吹氣球輕輕吹凈。
  切勿用手或硬物觸碰,Be窗極薄且有毒,破損會導致X射線泄漏和儀器故障。
  4、檢查探測器狀態
  對于Si(Li)或SDD探測器,確保制冷系統(如Peltier制冷或液氮)工作正常。
  檢查制冷溫度是否達到設定值(如-35°C以下),避免探測器“升溫”導致性能下降。
  5、運行儀器自檢程序
  開機后或關機前,運行儀器自帶的真空檢測(如有)、X射線管預熱、穩定性測試或標準樣校驗程序,確保系統狀態正常。
