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本系列中我們陸續(xù)介紹了一些針對落地式XRD的用戶日常儀器檢查維護(hù)技巧，本篇將向大家繼續(xù)介紹XRD一些周期較長的維護(hù)及自檢內(nèi)容。月檢：空壓機(jī)排水空壓機(jī)為XRD提供干燥、潔凈、穩(wěn)定壓力的壓縮空氣，為快門、自動門、探測器提供輔助動力，確保其正常運(yùn)行。空壓機(jī)的狀態(tài)直接關(guān)聯(lián)XRD的運(yùn)行穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)質(zhì)量，要非常重視它的定期維護(hù)。在潮濕的環(huán)境下每半個月需要為空壓機(jī)排水一次，干燥的實驗室環(huán)境下，每月排水一次。圖1空壓機(jī)圖2排水閥門季檢1：X射線輻射劑量檢查馬爾文帕納科XRD作為一臺射線裝置，...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運(yùn)動和光散射特性，實現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)測量。該儀器核心光學(xué)系統(tǒng)包含激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，支持10-2000nm粒徑檢測范圍，并具備熒光檢測功能。其工作原理是通過激光束照射納米顆粒懸浮液，利用顯微鏡捕捉顆粒散射光形成的移動光點，相機(jī)以每秒約30幀的速度記錄顆粒布朗運(yùn)動軌跡，專用軟件通過斯托克斯-愛因斯坦方程推算粒徑分布，精度可達(dá)4nm，同時提...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術(shù)的物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運(yùn)動和光散射特性，實現(xiàn)粒徑、濃度及Zeta電位等多參數(shù)測量。該儀器利用激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，捕捉納米顆粒在液體中的布朗運(yùn)動軌跡。通過分析顆粒的擴(kuò)散系數(shù)，結(jié)合斯托克斯-愛因斯坦方程，計算其流體力學(xué)直徑，精度可達(dá)4nm。同時，支持熒光檢測功能，可識別熒光標(biāo)記顆粒，實現(xiàn)多參數(shù)同步分析。以下是納米顆粒跟蹤分析儀其主要結(jié)構(gòu)特點：一、高精度光學(xué)系統(tǒng)：實現(xiàn)單顆粒可視化光...

激光粒度分析儀是一種基于光散射原理的高精度顆粒測量儀器，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)及環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域。其核心原理是：當(dāng)激光束照射到顆粒時，會發(fā)生衍射和散射現(xiàn)象，散射光的強(qiáng)度與角度分布與顆粒大小密切相關(guān)。通過測量不同角度的散射光信號，并利用Mie散射理論或Furanhofer衍射理論進(jìn)行計算，可精確推導(dǎo)出顆粒的粒徑分布。在應(yīng)用領(lǐng)域方面，激光粒度分析儀發(fā)揮著重要作用。在材料科學(xué)中，它用于分析金屬粉末、陶瓷原料及納米顆粒的粒度分布，優(yōu)化材料性能；在工業(yè)生產(chǎn)中，它助力涂料、化工及水泥...

X射線熒光光譜儀（XRF）是一種基于X射線激發(fā)物質(zhì)產(chǎn)生特征熒光的分析儀器，通過測量熒光波長和強(qiáng)度實現(xiàn)元素的定性與定量分析。其核心原理是：高能X射線轟擊樣品時，原子內(nèi)層電子被擊出形成空穴，外層電子躍遷填補(bǔ)時釋放特征X射線熒光，不同元素的熒光波長具有唯1性，構(gòu)成元素分析的“指紋”特征。該儀器具有非破壞性、快速多元素分析的優(yōu)勢。檢測范圍覆蓋原子序數(shù)11（鈉）至92（鈾）的元素，含量檢測下限達(dá)ppb級，可分析固體、粉末、液體及薄膜樣品。例如，在環(huán)境監(jiān)測中，可快速檢測土壤、水體中的重金...