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zeta電位儀是一臺高性能雙角度顆粒粒度及分子大小分析儀，采用動態光散射法，結合“NIBS”光學器件，可增強對聚集體的檢測，還可測量小尺寸或稀釋樣品，以及極低濃度或高濃度樣品。ZSE還包含了電泳光散射法表征顆粒、分子的zeta電位儀，以及靜態光散射法表征分子量。與使用90度散射光學器件的系統相比，該系統采用非侵入式背散射光學器件（NIBS），使性能得到顯著提升。那么zeta電位儀的安裝方法是什么呢？1.打開電腦主機箱，安裝視頻采集卡，將視頻采集卡安裝在電腦主板上的PCI插槽中...

Zeta電位儀可用于測定分散體系顆粒物的固－液界面電性（ζ電位），也可用于測量乳狀液液滴的界面電性，也可用于測定等電點、研究界面反應過程的機理。通過測定粉體的Zeta電位，從pH－Zeta電位關系圖上求出等電點，是認識粉體表面電性的重要方法，在粉體表面處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的*性。可廣泛應用于化妝品、選礦、造紙、醫療衛生、建筑材料、超細材料、環境保護、海洋化學等行業，也是化學、化工、醫學、建材等專業的重要教學儀器之一。zeta電位儀的性能...

分析馬爾文流變儀的動態模式：在動態測試中，馬爾文流變儀可以控制振蕩頻率、振蕩幅度、測試溫度和測試時間。在典型的測試中，將其中二項固定，而系統地變化第三項。應變掃描、頻率掃描、溫度掃描和時間掃描是基本的測試模式，掃描就是在所選擇的步驟中，連續地變化某個參數。動態單點測試就是在恒定頻率下施加恒定幅度的正弦形變。在測試中需要確定的參數是：頻率，應變或應力和實驗溫度。應變控制型流變儀的動態頻率掃描模式是以一定的應變幅度和溫度，施加不同頻率的正弦形變，在每個頻率下進行一次測試。對于應力...

X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品，產生X熒光（二次X射線），探測器對X熒光進行檢測。X熒光光譜儀是專門為工業用戶設計的、全集成化的X射線熒光光譜儀系統，小型化、高可靠性，它不需要任何外部輔助系統、如變壓器、液氮或冷卻水；主機采用220V交流電源，即可以安裝在實驗室內使用，也可以安裝在質量控制現場使用。儀器可以在任何環境中，每周七天，每天24小時連續運行。X熒光光譜儀的性能特點：1、分析速度快。測定用時...

馬爾文粒度儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來分析顆粒大小的儀器，采用Furanhofer衍射及Mie散射理論，測試過程不受溫度變化、介質黏度，試樣密度及表面狀態等諸多因素的影響，只要將待測樣品均勻地展現于激光束中，即可獲得準確的測試結果。目前，我國粒度儀市場上的產品種類豐富，功能齊全，滿足眾多科研院所和實驗研究的需求。雖然馬爾文粒度儀的應用已經非常廣泛，但用戶在操作設備的過程中，尤其需要注意幾個細節問題。注意事項一：測量單元預熱。由于力度分析儀采用精密電子元件制...